Nearfield Instruments führt den „Lightning Mode“ für QUADRA ein, ein schnelleres AFM-Messsystem für fortschrittliche Halbleiterbauelemente. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices.

Nearfield Instruments führt den „Lightning Mode“ für QUADRA® ein, das AFM-Messsystem mit dem höchsten Durchsatz für fortschrittliche Halbleiterbauelemente. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. QUADRA ist nun vollständig für die Massenproduktion qualifiziert und im Einsatz und bietet zerstörungsfreie 3D-Messtechnik für Speicher, Logikprozesse und Strukturen mit hohen Aspektverhältnissen. QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. Diese Innovation beschleunigt die Ertragszeit und optimiert und kontrolliert den HVM-Ertrag. This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control.