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flag Aehr Test Systems stellt für sein GaN-Gerätetestsystem den wichtigsten automobilen Halbleiterauftrag an.

flag Aehr Test Systems erhielt einen ersten Produktionsauftrag für seinen FOX-XP Wafer-Level-Test und Burn-In-System von einem führenden Automobil-Halbleiter-Lieferanten. flag Das System, das für Galliumnitrid (GaN)-Geräte entwickelt wurde, die in Automobil-, Solar- und Rechenzentrumsanwendungen eingesetzt werden, wird bald mit dem Versand beginnen. flag GaN-Geräte werden voraussichtlich deutlich wachsen, wobei der Markt bis 2029 voraussichtlich 2,5 Milliarden Dollar erreichen wird.

Vor 5 Monaten
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